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Divisione modelli e tecnologie per la riduzione degli impatti antropici e dei rischi naturali

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SEM - Microscopio Elettronico a Scansione

Acronimo: 
SEM
Tipologia: 
Infrastruttura localizzata
Localizzazione: 
Centro Ricerche Bologna
Laboratorio di riferimento: 
Laboratorio Tecnologie per la DInamica delle Strutture e la PREVenzione del rischio sismico e idrogeologico

Analisi Morfologica di microscopia elettronica e microanalisi semiquantitativa

Contatti: 
stefania.bruni@enea.it